| 服務(wù)項(xiàng)目 | 瀏覽量11 | 發(fā)布時(shí)間2021-12-16 |
| 品牌普賽斯儀表 | 所在地湖北 武漢 | 起訂未填 |
| 供貨總量未填 | 發(fā)貨3天內(nèi)發(fā)貨 | 有效期至長(zhǎng)期有效 |
| 測(cè)試范圍0.3mV-300V/100pA-1A | 測(cè)試精度0.1% | 最大輸出功率30W |
LIV 即光電特性，是驗(yàn)證激光二極管、探測(cè)器性能的普遍的方法。在晶圓、切割、管芯、封裝后老化測(cè)試過(guò)程中，為降低生產(chǎn)成本同時(shí)增加產(chǎn)品吞吐量，快速可靠的LIV測(cè)試系統(tǒng)對(duì)制造光電器件的工廠是很重要的。
根據(jù)Laser Diode工作原理，通常技術(shù)人員要用到電流源來(lái)驅(qū)動(dòng) LD 工作，產(chǎn)生光的同時(shí)用光功率計(jì)測(cè)量光功率來(lái)完成LIV特性測(cè)試。在不同的測(cè)試階段例如Chip 測(cè)試，技術(shù)人員將電流源、電壓表、電流表、開(kāi)關(guān)、同步觸發(fā)單元、光功率計(jì)集成起來(lái)才能完成測(cè)試，同時(shí)老化測(cè)試前后需要將每個(gè)管芯或模塊的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜程度，影響了測(cè)試精度和數(shù)據(jù)可靠性。
miniled器件LIV測(cè)試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯儀表開(kāi)發(fā)的LIV測(cè)試系統(tǒng)采用國(guó)產(chǎn)S型數(shù)字源表為核心，結(jié)合測(cè)試軟件以及第三方設(shè)備積分球探測(cè)器完成LD的LIV測(cè)試。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、可靠性好、速度快，提高生產(chǎn)效率的同時(shí)也增加了測(cè)試精度和可靠性，并且降低了測(cè)試成本。
需要測(cè)試的參數(shù)：
驅(qū)動(dòng)電流I,正向壓降Vf
光功率Po
閾值電流Ith
拐點(diǎn)Ikink,背光電流Idark
需要儀器列表：
S型國(guó)產(chǎn)源表
積分球
可變光源
軟件
高校相關(guān)專(zhuān)業(yè)
微電子，材料專(zhuān)業(yè)
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